如今便攜式電子產(chǎn)品越來(lái)越受歡迎，其電池設(shè)備也成為關(guān)注的焦點(diǎn)，由于鋰離子電池和聚合鋰離子電池能量密度大、使用時(shí)間長(zhǎng)、滿足環(huán)保要求，已逐漸取代鎳鎘電池和鎳氫電池，成為便攜式設(shè)備的首選充電電池。理光鋰電保護(hù)芯片R5426系列是為使用在便攜設(shè)備(如蜂窩電話，PDA)的單節(jié)鋰離子電池而設(shè)計(jì)的。

R5426系列是單節(jié)可充鋰離子/聚合物電池的過(guò)充/放電/過(guò)電流保護(hù)芯片，它也包括一個(gè)短路電流保護(hù)器，防止外電路短路時(shí)的大電流。

R5426系列采用高耐壓工藝制造，耐壓不低于28V,封裝為6-pin,SOT23-6或SON-6,具有低耗電,(供電電流典型值3.0uA,待機(jī)電流典型值0.1uA),高精度的測(cè)試器閥值，多種保護(hù)極限器閥值,內(nèi)置輸出延時(shí),還有0V可充功能,具有過(guò)充保護(hù)后鎖定功能.

每個(gè)IC有四個(gè)電壓測(cè)試器，一個(gè)參考電路單元，一個(gè)延時(shí)電路，一個(gè)短路保護(hù)器，一個(gè)振蕩器、計(jì)數(shù)器和一個(gè)邏輯電路組成。當(dāng)充電電壓或充電電流由小變大，超過(guò)這兩者相應(yīng)測(cè)試器(VD1、VD4)的閥值電平時(shí)，輸出引腳Cout，即過(guò)充電保護(hù)測(cè)試器/VD1和充電過(guò)流測(cè)試器/VD4的輸出電壓經(jīng)過(guò)內(nèi)部相應(yīng)延時(shí)就轉(zhuǎn)為低電平。在過(guò)充或充電過(guò)流之后，電池組離開(kāi)充電器并有負(fù)載連接到VDD，并當(dāng)電池的電壓降到過(guò)充測(cè)試值之下時(shí)，這兩個(gè)相應(yīng)測(cè)試器(VD1、VD4)被復(fù)位并且Cout的輸出變?yōu)楦唠娖?。假如電池組仍在充電器上，即使電池的電壓降到過(guò)充測(cè)試值之下時(shí)，過(guò)充保護(hù)狀態(tài)仍不會(huì)解除。

DOUT腳為過(guò)放電測(cè)試器(VD2)和放電過(guò)流測(cè)試器(VD3)的輸出腳。當(dāng)放電電壓由高向低，且低于過(guò)放電測(cè)試器的閥值電壓VDET2，即低于VDET2時(shí)，DOUT腳在經(jīng)過(guò)內(nèi)部固定延時(shí)后就轉(zhuǎn)低電平。

在測(cè)試到過(guò)放后，如將充電器與電池包相連接，并當(dāng)電池供電電壓高于過(guò)放電電壓測(cè)試器的閥值電壓時(shí)，VD2被釋放并且DOUT變成“高電平。

內(nèi)置過(guò)流/短路測(cè)試器VD3可以感應(yīng)到放電過(guò)電流的狀態(tài)，并經(jīng)過(guò)內(nèi)置的固定延時(shí)后，通過(guò)輸出端DOUT變?yōu)榈碗娖蕉袛喾烹姡换驕y(cè)試到短路電流時(shí)使DOUT的值立即變低從而切斷放電。一旦測(cè)試到過(guò)電流或短路后，可將電池組與負(fù)載分離，VD3被釋放并且DOUT電平變?yōu)楦摺?/p>

另外，在測(cè)試到過(guò)放電后，芯片將暫停內(nèi)部電路工作以維持在極低的耗電水平。通過(guò)將DS端設(shè)到與VDD相同的電平，能將以上保護(hù)延時(shí)(除短路保護(hù))縮短。尤其是過(guò)充保護(hù)延時(shí)會(huì)縮短為1/90，因而探測(cè)保護(hù)電路的時(shí)間可縮短。而且，當(dāng)DS端的電平設(shè)置在某一范圍內(nèi)，輸出延時(shí)會(huì)取消，這樣一來(lái)，過(guò)充和過(guò)充電流立即會(huì)被測(cè)試到。此時(shí)的延時(shí)約為不超過(guò)幾十微秒。